乳牙釉、牙本质钙含量之分析研究
关键词：乳牙
［摘要］ 目的：分析探讨乳牙釉质、牙本质钙含量状况与龋病关系。方法：对37例5~7岁幼儿园乳恒牙替换所拔除的下颌乳中切牙，用电子探针X线显微分析仪检测各牙之近中侧、远中侧、唇侧和舌侧之釉质和牙本质不同深度之钙含量。受检测牙37颗（1｜ 18颗，｜1 19颗）。37例中dft=0者14名，为无龋组；dft＞0者23名，为有龋组。有龋组中0＜dft＜5者9名，为低危组；dft≥5者14名，为高危组。结果：1）釉质Ca含量在各侧间以舌侧之含量最少（P=0.0001），且舌侧釉质各深度间之Ca含量有明显差异，浅层最多、中层次之，深层最少（P=0.037）。其余各侧间及各侧之各不同深度间均无明显差异。2）牙本质Ca含量在各侧间均无明显差异。各侧之各深度间Ca含量除远中侧无明显差异，近中侧（P=0.0152）、舌侧（P=0.0152）、唇侧（P=0.0167）的各深度间均呈非常明显之差异。总体牙本质之钙含量呈深层最高、中层为次、浅层最低（P=0.0001）。3）牙釉质和牙本质之钙含量在无龋组和有龋组间无明显差异（P=0.9692，P=0.2705）。有龋组之钙含量与dft仅在近中侧和唇侧釉质中呈低度负相关关系（r=-0.46052和-0.40139，P=0.0310和0.0576），除此在釉质和牙本质中均未呈相关关系。结论：釉质和牙本质中钙含量与龋病无非常明显的相关关系。［关键词］ 乳牙 牙釉质 牙本质 钙含量 电子探针
自1940年Bird M·J等报告乳牙之牙釉质和牙本质中钙含量以来，有关其详细的含量及分布之报告甚少。作者以电子探针X线显微分析仪（elec-tron probe X-ray mMicroanalyzer，EMPA）检测、分析乳牙釉质、牙本质不同深度之钙含量，并探讨其与龋病状况之关系。1 材料与方法
1.1 材料 收集5~7岁37例（男16例，女21例）因替牙拔除的下颌乳中切牙37颗（1｜18颗，｜119颗）。均为牙冠完整、无龋损、无釉质发育不全等。
1.2 方法
1.2.1 临床检查、记录与分组 37例患儿在拔牙前均作详细的口腔检查，就龋蚀牙面和程度等作确切的记录。计算各例的dft、dfs和龋蚀指数CSI。CSI数据由龋牙之记分计算所获。龋牙之记分标准为：无龋0，因龋修复0.5 ，继发龋、釉质龋或牙本质浅龋1，牙本质深龋、露髓、残冠或残根为2。CSI= ×100。dft和CSI均为0者即无龋组，5＞dft＞0和
图1 标本定点测量示意图 略
Fig. 1 The illustration of sample positioning10≥CSI＞0为低危组，dft≥5和CSI＞10为高危组。分组结果为无龋组14例，有龋组23例（低危组9例，高危组14例）。
1.2.2 标本制备和检测 清洁离体牙表面，横断向片切去除牙根。再于距颈缘最低点3 mm处作唇舌向横断片切，取颈侧片此剖面作标本的测试面。标本用环氧树脂包埋固定，抛光、清洁、真空喷碳（JEE-4X真空镀膜仪，JEOL公司），碳膜厚度为200 A。用扫描电镜（S-570型，HITACHI公司）结合能谱仪（PHONIX型，EDAX公司）观察、检测标本。各标本共测24个点，由唇侧、舌侧、近中侧和远中侧的各侧中点，从牙釉质表面向牙本质深层各定6个点，釉质、牙本质各为3个点。釉质的定点为：浅层距釉质表面40 μm处，深层距釉牙本质界40 μm处，上述两点之中点为中层。牙本质的定点为：浅层距釉牙本质界40 μm处，中层距釉牙本质界190 μm处，深层距釉牙本质界340 μm处，见图1。定点和测试避开釉板、釉柱鞘、牙本质小管和管周牙本质等。
1.2.3 统计分析 检测所获数据用SAS（6.12版）统计软件包处理，用t检验法、方差分析和直线相关回归分析法或等级相关分析法作统计学分析。
表1 牙釉质、牙本质各牙面各深度之钙含量 略
2 结果2.1 37颗下颌乳中切牙釉质、牙本质各侧不同深度之钙含量，见表1。
